Ejercicio 3 - Exercici 2 · Ciencia de Materiales UB Examen Parcial de Ciència de Materials
Tema: Defectes cristal·lins i caracterització microestructural · Del examen Examen Parcial de Ciència de Materials
Enunciado
Exercici 2 (1 punt). Identificació de tècniques de caracterització microscòpica
A continuació es presenten quatre micrografies de diferents materials obtingudes mitjançant tècniques de caracterització habituals en ciència de materials. Identifiqueu quina tècnica s'ha utilitzat en cadascuna d'elles:
a.
Micrografia amb barra d'escala de i aparença tridimensional de fractura o creixement cristal·lí:
b.
Micrografia que mostra una xarxa regular de porus o nanopartícules amb barra d'escala de :
c.
Micrografia de microestructura granular metàl·lica o ceràmica amb barra d'escala de :
d.
Topografia superficial amb mapa d'altures/contrast i barra d'escala de :
Solución
Según los criterios oficiales de corrección
a. Micrografia amb barra d'escala de 10 µm i aparença tridimensional de fractura o creixement cristal·lí:
Solución: SEM / Microscòpia Electrònica d'Escombratge / Scanning Electron Microscopy
b. Micrografia que mostra una xarxa regular de porus o nanopartícules amb barra d'escala de 50 nm:
Solución: TEM / Microscòpia Electrònica de Transmissió / Transmission Electron Microscopy
c. Micrografia de microestructura granular metàl·lica o ceràmica amb barra d'escala de 100 µm:
Solución: Microscòpia òptica / Microscòpia òptica de reflexió / Optical Microscopy
d. Topografia superficial amb mapa d'altures/contrast i barra d'escala de 20 nm:
Solución: AFM / SPM / Microscòpia de Forces Atòmiques / Atomic Force Microscopy / Microscòpia de Sonda d'Escombratge
La explicación paso a paso, hecha con IA, es Premium. Premium
Resuélvelo aquí mismo: corrección automática, pistas y solución paso a paso.
‹ Ejercicio Preguntes 1-10 - Defectes cristal·lins · Juny 2018