Aufgabe Vorschlag C - Aufgabe 1.1 · Abitur Hessen Technische Informatik LK 2021

Boundary-Scan-Test

Das Verfahren des Boundary-Scan-Tests (BST) wurde entwickelt, um Leiterbahnen auf Leiterplatten (Platinen) mithilfe von Software auf ihre Funktionalität zu testen.

Der BST nutzt auf der Leiterplatte vorhandene spezielle integrierte Schaltkreise (ICs) 1, die über die vier zusätzlichen BST-Anschlüsse Testdata in (TDI), Testdata out (TDO), Testclock (TCK) und Test mode select (TMS) verfügen.

Eine detailliertere Übersicht eines solchen Boundary-Scan-ICs ist in Material 1 zu finden. In den ICs befinden sich Boundary-Scan-Zellen, die als Schieberegister zwischen den Anschlüssen der ICs und der internen Logik angeordnet sind. Der Boundary-Scan-Test wird softwareseitig von einem PC über einen Mikrocontroller gesteuert. Im Folgenden soll zuerst die Testsoftware erstellt werden.

1 Integrated Circuit, kurz IC; Plural ICs.

Material 1: Übersicht Boundary-Scan-IC

1.1

Folgende Anwendungsbeschreibung liegt vor:

Das Testpersonal (im Folgenden Tester genannt), das den BST durchführt, kann Schaltungsbeschreibungen in das Programm einlesen. Der Tester kann außerdem den Test auswählen, der durchgeführt werden soll, und er kann Testmuster generieren. Es gibt drei Spezialfälle von Testmustern: den Integritätstest, den Verbindungstest und den Speichertest. Für jeden Spezialfall müssen bei der Generierung der Testmuster unterschiedliche Einstellungen vorgenommen werden. Als weitere Aktionen stehen dem Tester die Testdurchführung des ausgewählten Tests und das Anzeigen der Testergebnisse zur Verfügung.

Entwickeln Sie ein aussagekräftiges Anwendungsfalldiagramm (Use-Case-Diagramm) für diese Anwendungsbeschreibung. Bestimmen Sie dabei die menschlichen Akteure, die Beziehungen zwischen den Akteuren und Anwendungsfällen und eventuell vorhandene Vererbungs-, include- oder extend-Beziehungen. [10 BE]